Měření depozice tenkých vrstev - Vakuotechnika.cz

Odhlášení
Přejít na obsah

Měření depozice tenkých vrstev

    V oblasti měření depozice tenkých vrstev metodou vakuového povlakování, nabízíme systémy pro měření deponované tloušťky a rychlosti depozice vrstev. Dále nabízíme veškeré potřebné příslušenství od měřících senzorů až po sofistikované měřící a regulační přístroje. Zajišťujeme instalaci těchto přístrojů do povlakovacích zařízení a napojení na řídící systémy těchto aparatur.
Měření depozice tenkých vrstev
Monitory depozice tenkých vrstev
    Monitory depozice tenkých vrstev jsou přístroje pro měření a řízení tloušťky a rychlosti depozice tenkých vrstev metodou vakuového povlakování.
STM-2 je přístroj pro měření tloušťky a rychlosti depozice tenkých vrstev. STM-2 kombinuje jednoduché kompaktní provedení s rozhraním USB a přesností přesného měřícího přístroje. Nízká cena, malá velikost a jednoduchost STM-2 nabízí snadnou instalaci a jednoduchou obsluhu přístroje.
Dostupnost na dotaz
0,00 Kč(bez DPH)
Přidat
Držáky krystalů
    Držáky krystalů označované také jako snímače QCM, slouží k uchycení měřícího krystalu ve vakuové aparatuře.
Držák krystalu pro měření depozice tenkých vrstev metodou vakuového napařování.
Skladem
4 950,00 Kč(bez DPH)
Přidat
Měřící krystaly
    Krystaly pro měření depozice tenkých vrstev metodou vakuového povlakování.
MKJ-1-Cr+Ag-5 Monitorovací krystal
Křemenný krystalový monitor
Kmitočtový rozsah 4990 kHz ±20 kHz
Rozsah pracovních teplot +15 ... +55 °C
Teplotní stabilita kmitočtu ±5 x 10-6
Ekvivalentní sériový odpor 20 Ω max.
Pokovení Cr+Ag
Budící výkon 100 µW max.
Skladem
275,00 Kč(bez DPH)
Přidat
MKJ-1-Cr+Ag-6 Monitorovací krystal
Křemenný krystalový monitor
Kmitočtový rozsah 5970 kHz ±20 kHz
Rozsah pracovních teplot +20 ... +125 °C
Teplotní stabilita kmitočtu ±40x 10-6
Ekvivalentní sériový odpor 20 Ω max.
Pokovení Cr+Ag
Budící výkon 100 µW max.
Dostupnost na dotaz
0,00 Kč(bez DPH)
Přidat
MKJ-2-Cr+Ag-5 Monitorovací krystal
Křemenný krystalový monitor
Kmitočtový rozsah 4990 kHz ±20 kHz
Rozsah pracovních teplot +15 ... +55 °C
Teplotní stabilita kmitočtu ±5 x 10-6
Ekvivalentní sériový odpor 20 Ω max.
Pokovení Cr+Ag
Budící výkon 100 µW max.
Dostupnost na dotaz
0,00 Kč(bez DPH)
Přidat
MKJ-2-Cr+Ag-6 Monitorovací krystal
Křemenný krystalový monitor
Kmitočtový rozsah 5970 kHz ±20 kHz
Rozsah pracovních teplot +20 ... +125 °C
Teplotní stabilita kmitočtu ±40x 10-6
Ekvivalentní sériový odpor 20 Ω max.
Pokovení Cr+Ag
Budící výkon 100 µW max.
Dostupnost na dotaz
0,00 Kč(bez DPH)
Přidat
Návrat na obsah