Měření depozice tenkých vrstev - Vakuotechnika.cz

Přejít na obsah

Měření depozice tenkých vrstev

Držák krystalu pro měření depozice tenkých vrstev metodou vakuového napařování.
Skladem
4 950,00 Kč(bez DPH)
Přidat
MKJ-1-Cr+Ag-5 Monitorovací krystal
Křemenný krystalový monitor
Kmitočtový rozsah 4990 kHz ±20 kHz
Rozsah pracovních teplot +15 ... +55 °C
Teplotní stabilita kmitočtu ±5 x 10-6
Ekvivalentní sériový odpor 20 Ω max.
Pokovení Cr+Ag
Budící výkon 100 µW max.
(skladem 5ks)
Skladem
275,00 Kč(bez DPH)
Přidat
MKJ-1-Cr+Ag-6 Monitorovací krystal
Křemenný krystalový monitor
Kmitočtový rozsah 5970 kHz ±20 kHz
Rozsah pracovních teplot +20 ... +125 °C
Teplotní stabilita kmitočtu ±40x 10-6
Ekvivalentní sériový odpor 20 Ω max.
Pokovení Cr+Ag
Budící výkon 100 µW max.
Dostupnost a cena na dotaz
0,00 Kč(bez DPH)
Přidat
MKJ-2-Cr+Ag-5 Monitorovací krystal
Křemenný krystalový monitor
Kmitočtový rozsah 4990 kHz ±20 kHz
Rozsah pracovních teplot +15 ... +55 °C
Teplotní stabilita kmitočtu ±5 x 10-6
Ekvivalentní sériový odpor 20 Ω max.
Pokovení Cr+Ag
Budící výkon 100 µW max.
Dostupnost a cena na dotaz
0,00 Kč(bez DPH)
Přidat
MKJ-2-Cr+Ag-6 Monitorovací krystal
Křemenný krystalový monitor
Kmitočtový rozsah 5970 kHz ±20 kHz
Rozsah pracovních teplot +20 ... +125 °C
Teplotní stabilita kmitočtu ±40x 10-6
Ekvivalentní sériový odpor 20 Ω max.
Pokovení Cr+Ag
Budící výkon 100 µW max.
Dostupnost a cena na dotaz
0,00 Kč(bez DPH)
Přidat
Návrat na obsah